芯片IC关键功能检测

概述:是一种动态测试方法，又称为主要功能检测或总体功能检测。指在特定工作条件（即器件正常使用环境，通常为常温），不考虑器件的极限参数（如较大/较小参数），器件正常工作的状态下，进行各种必要的逻辑或信号状态测试。此测试依据原厂规格书、应用笔记或客户应用现场，以及行业标准或规范，设计可行性测试向量或测试电路，对检测样片施加相应的有效激励（信号源）输入，通过外围电路的调节控制、信号放大或转换匹配等特定条件，分析信号的逻辑关系及输出波形的变化状态，检测器件的功能特性。检测的内容：

A、随机抽样1只样品化学解剖分析；

B、验证器件的主要功能是否正常；

C、验证器件的关键功能是否符合较终客户的要求（客户的特殊用途需要提前指出）；

D、部分可编程器件查空（器件是否已经烧录程序或数据）。