CECC实验室,国际*第三方芯片检测机构,在FPGA功能测试方面具有强大优势,不仅拥有高端的测试机台,更拥有专业的技术团队,我们已经成功测试了Xilinx和Altera的多款芯片,如:XC2V4000、XC2V1000、XC2V6000、XC2VP40、EP1K100、EP10K50、EP20K400等。
级别三 关键功能检测(KFT)
概述:是一种动态测试方法,又称为主要功能检测或总体功能检测。指在特定工作条件(即器件正常使用环境,通常为常温),不考虑器件的极限参数(如较大/较小参数),器件正常工作的状态下,进行各种必要的逻辑或信号状态测试。此测试依据原厂规格书、应用笔记或客户应用现场,以及行业标准或规范,设计可行性测试向量或**测试电路,对检测样片施加相应的有效激励(信号源)输入,通过外围电路的调节控制、信号放大或转换匹配等特定条件,分析信号的逻辑关系及输出波形的变化状态,检测器件的功能特性。检测的内容:
A、随机抽样1只样品化学解剖分析;
B、验证器件的主要功能是否正常;
C、验证器件的关键功能是否符合较终客户的要求(客户的特殊用途需要提前指出);
D、部分可编程器件查空(器件是否已经烧录程序或数据)。