IC全功能测试验证，芯片全功能测试验证

全部功能及特性参数测试（FFCT）

概述： 简称全功能测试，依据原厂规格书、应用笔记或客户应用现场，对器件的全部功能进行测试，包括直流特性参数的测试，但不包括AC参数特性的验证分析和部分不可批量测试的极限参数。

检测的内容：

A、随机抽样1只样品化学解剖分析；

B、测试器件的直流特性参数是否符合设计标准；

C、测试器件的关键功能是否正常；

D、测试器件的部分辅助功能是否符合设计要求；

F、测试器件的部分可编程器件内部结构完整性。